智力測(cè)驗(yàn)篩查法
按通用的智力測(cè)驗(yàn)方法
檢查時(shí),往往需要較長(zhǎng)的時(shí)間,有時(shí)需 1 ~ 2 小時(shí)以上,不利于一般兒科醫(yī)生或小兒保健普查時(shí)應(yīng)用,所以采用一些簡(jiǎn)易的篩查方法。測(cè)試的內(nèi)容大多是從各種經(jīng)典的智力測(cè)驗(yàn)方法中選出。測(cè)驗(yàn)時(shí)僅須較短的時(shí)間,可以初步篩查出可疑病例。篩查結(jié)果只能做為需要不需要進(jìn)一步檢查的依據(jù),不能據(jù)此而做出診斷。目前國(guó)內(nèi)常用的篩查方法有以下幾種。
(1) 丹佛智力發(fā)育篩查法( Denver developmental screening test,DDST ):適用于初生至 6 歲小兒,方法操作簡(jiǎn)便,花費(fèi)時(shí)間少,工具簡(jiǎn)單,信度和效度均好。此法已被世界各地廣泛采用。我國(guó)于 80 年代初開始應(yīng)用此法。上海、北京等地根據(jù)我國(guó)社會(huì)、經(jīng)濟(jì)、語(yǔ)言、文化、教育方法和地理環(huán)境的特點(diǎn),將 DDST 進(jìn)行了標(biāo)準(zhǔn)化處理,并繪制了小兒智力發(fā)育篩查量表( DDST-R )。
(2) 繪人測(cè)驗(yàn):根據(jù)畫出的人形進(jìn)行評(píng)分,判斷智力發(fā)育水平,適用于 5 ~ 12 歲兒童智力篩查。年齡較小的孩子有得分偏高而年齡較大小兒有得分偏低的趨勢(shì)。引測(cè)驗(yàn)與其他智力量表測(cè)驗(yàn)所得的 IQ 有明顯的相關(guān)性。
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(責(zé)編:sun????來(lái)源:育兒網(wǎng))